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NXP Semiconductors
ESD TESTER
acc. to IEC 61000-4-2
C Z = 150 pF; R Z = 330 Ω
PESD5V0V1BLD
Very low capacitance bidirectional ESD protection diode
4 GHz DIGITAL
OSCILLOSCOPE
RG 223/U
RZ
450 Ω
50 Ω coax
10 ×
ATTENUATOR
CZ
DUT
(DEVICE
UNDER
TEST)
50 Ω
GND
GND
vertical scale = 10 A/div
horizontal scale = 15 ns/div
unclamped +8 kV ESD pulse waveform
(IEC 61000-4-2 network)
vertical scale = 10 A/div
horizontal scale = 15 ns/div
unclamped ? 8 kV ESD pulse waveform
GND
GND
vertical scale = 10 V/div
horizontal scale = 100 ns/div
clamped +8 kV ESD pulse waveform
(IEC 61000-4-2 network)
vertical scale = 10 V/div
horizontal scale = 100 ns/div
clamped ? 8 kV ESD pulse waveform
Fig 9.
(IEC 61000-4-2 network)
ESD clamping test setup and waveforms
(IEC 61000-4-2 network)
006aab609
PESD5V0V1BLD
Product data sheet
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Rev. 1 — 7 December 2010
? NXP B.V. 2010. All rights reserved.
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